Innofocas微区膜厚仪，亚秒级膜厚参数测量，0.2nm测量精度微米级表面反射率的快速测量微点膜厚仪

该款5um微区膜厚仪可以对微米级表面尺寸光学反射率、薄膜厚度及膜层材料光学参数进行快速测量。可以在不到1秒钟内同时获取单层薄膜的厚度和材料光学参数。Innofocas微区薄膜测量仪可适用于例如实验室、工厂生产线及野外等环境，并对材料的参数进行实时测量。

Innofocas膜厚测量仪采用亚毫米级的小光斑，测量用的光斑直径从5um到100um。波长范围覆盖可见光和近红外光（350~1000nm）以及短波红外光（1000~1700nm）。测量光谱分辨率可小至0.25nm。反射率测量的精度<0.05%。

目前市面上的微区膜厚仪产品较少，比较知名的有希腊的Thetametrisis微点膜厚仪，美国的Filmetrics。美国的Innofocas微区膜厚仪也能在这些产品中为客户提供另一款全新的选择。不仅如此，Innofocas膜厚测量仪还提供了快速测量模式，快速模式下的单点膜厚仪测量的速度可以达到单次小于50毫秒。单点膜厚仪配备有USB数据输出接口和对应的软件，可以适配目前主流的Windows 10操作系统。

微区膜厚仪主要参数：

Innofocas膜厚测量仪对于膜厚的测量精度可以达到0.2nm，对于光学镜片的膜厚检测，医疗器械表面涂层效果。半导体制造等各种方面都能有较好的使用效果。另外目前很火的运用于锂电池中的薄膜测量，微点膜厚仪同样可以通过光学方式无损测量。保证了测试的安全性和参数的有效性。