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光学薄膜计算软件Essential Macleod,具备完整的工具,用于设计,优化和模拟光学镀膜_日本SigmaKoki

作者:韦bq 时间:2025-02-15

从透过率和反射率的波长特性信息来决定镀膜的薄膜结构时,需要光学薄膜计算软件Essential Macleod。光学薄膜计算软件除薄膜的设计之外,也可以用于模拟改变实验条件时的镀膜的光学特性的变化。光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod虽然是专业用的工具,但是初学者也可以使用这个具有直觉操作特征的光学薄膜设计软件。

日本SigmaKoki西格玛光机可提供由Thin Film Center Inc.开发的光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod,其型号是EMS-1,方便用户实现光学薄膜特性的模拟,自动化计算,镀膜材料数据库和一些其他的计算和分析性能,通过菜单、对话框和窗口进行操作,这款光学薄膜设计软件适合用于各种光学薄膜设计需求‌,如抗反射涂层、高反射镜、分光镜、滤波片等。

- [Essential Macleod]是关于光学薄膜[THIN-FILM OPTICAL FILTERS(光学薄膜)]等著作的著名作者Angus Macleod开发的Windows®专用的光学薄膜设计软件。

- 光学薄膜计算软件具有丰富的光学薄膜特性的模拟,自动化计算,镀膜材料的数据库等光学薄膜设计中需要的高水准的性能。

日本SigmaKoki西格玛光机光学薄膜计算软件Essential Macleod的注意事项:

- 与其它软件的相互作用有时可能会导致不能运行,推荐使用专用的PC机。

- 价格有时会随汇率,性能的升级等而产生变动,需求时,请联系我们问询。


技术指标

型号

EMS-1

〈开发商〉

Thin Film Center Inc.

2745 East Via Rotonda, Tucson, AZ 85716-5227

TEL: +1-520-322-6171 FAX: +1-520-325-8721

Essential MacleodThin Film Center lnc.公司的标志和注册商标。

Windows®是美国微软公司的注册商标。


以下是光学薄膜分析与设计软件Essential Macleod的部分功能展示:

光学薄膜特性的模拟:

- 薄膜的透过率和反射率的模拟

- 透过光和反射光相位变化的模拟

- 薄膜厚度的误差影响的模拟

- 群速度分散等的模拟


优化的自动计算:

- 透过率和反射率

- P和S偏光的相位变化

- 透过光和反射光的相位变化


镀膜材料的数据库:

- 主要镀膜材料的光学常数(n·k)的数据库

- 以多种情报为基础的数据库管理

- 从分光特性的实际测量值计算光学常数

- 镀膜材料的色散数据的制作


其他机能:

- 群速度分散的计算

- 薄膜电场分布解析

- 薄膜和玻璃基板组合时的透过率计算


动作环境

- IBM-PC及其兼容机

- MS-Windows®操作系统

- 硬盘的可用容量20MB以上


服务:

从购买之日起1年内支持免费版本升级。超过1年以上时,如果缔结会员合同,则可以继续支持免费版本升级。


选购件:

- 追加授权

(可用在另外一台电脑上运行。)

- 会员合同

(购买1年后,还可以再享受一年免费的服务。)


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