瑞典SiTek生产了一种用于高速三维轮廓测量的阵列式位敏探测器,也叫做位置敏感探测器阵列(PSD-Array),其型号是1LA16-2,5_SU89。SiTek位敏探测器阵列由同一芯片上的16个平行一维PSD组成,PSD阵列探测器与SiTek探测器一样,也具备高线性度和高速度等特点。阵列式PSD具有独有的内置杂散光消除功能,而且SiTek位置敏感探测器阵列除了三维测量应用,还可与线激光器或多束激光器一起使用,是一个不错的选择。
所属品牌: 瑞典SiTek(已暂停代理)
应用类型:
产品型号:1LA16-2,5_SU89
负责人:韦工
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电子邮箱:bqwei@welloptics.cn
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SiTek位置敏感探测器阵列(PSD-Array)也叫阵列式位敏探测器,由瑞典SiTek生产,主要是由同一芯片上的16个平行一维PSD元件组成,只有一个型号,是1LA16-2,5_SU89。另外,SiTek探测器利用三角测量技术,激光线或多个激光点在阵列式PSD上的反射将提供有关被照物体轮廓的信息,阵列式位敏探测器可以同时读出16个元件,而且每个元件的响应速度都很快,因此非常适合高速三维轮廓测量和平行移动物体(如悬臂)的测量等应用。为确保高灵敏度,阵列探测器元件之间的间隙已最小化,使填充因子超过97%,同时还具有低串扰和与SiTek其他一维PSD相同的高线性度。
另外,为了在杂散光条件下也能保持性能,SiTek位敏探测器阵列采用了SiTek独特的内置杂散光消除功能,这一专利设计消除了杂散光导致的速度和线性度下降。PSD阵列采用34针引脚双列直插式陶瓷封装,测量长度为2.5mm,还可以定制设计任何长度和数量的PSD元件。
SiTek 1LA16-2,5_SU89是一个阵列式位敏探测器,在同一芯片上有16个并行的一维PSD,这样就能同时从16个分段读出位置,并在各分段之间以较低的串扰进行高速三维轮廓测量,每个分段都具有与SiTek标准一维PSD相同的高线性度和高速度。SiTek PSD阵列探测器具有SiTek独有的内置杂散光消除功能,这一专利设计消除了杂散光导致的速度和线性度下降。而且,PSD阵列可与线激光器或多束激光器一起使用。
图1:阵列式位敏探测器图示
SiTek位置敏感探测器阵列主要应用:
- 3D测量
- 高速三维轮廓测量
- 平行移动物体(如悬臂)的测量
图2:应用实例图示
SiTek位置敏感探测器阵列(型号:1LA16-2,5_SU89)的规格参数表:
机械性能规格 |
||
规格 |
参数 |
单位 |
分段数量Number of segments |
16 |
|
每个分段的有效区域 |
2,5 x 0,39 |
mm2 |
分段之间的间隙 |
10 |
um |
电子技术规格 |
|||||
规格 |
标记Symbol |
最小值Min. |
典型Typ. |
最大Max. |
单位Unit |
位置非线性 |
|
|
0.1 |
0.2 |
% |
探测器电阻 |
Rdet |
15 |
25 |
35 |
kΩ |
漏电流 |
Id |
|
2 |
10 |
nA |
噪音电流 |
Inoise |
|
0.8 |
1.1 |
pA/√Hz |
响应Responsivity |
r |
|
0.63 |
|
A/W |
电容 |
Cj |
|
4 |
4.4 |
pF |
上升时间(10%-90%) |
tr |
|
70 |
100 |
ns |
交互式交流Cross talk |
|
|
0.5 |
1.0 |
% |
偏置电压(反向) |
VR |
5 |
15 |
20 |
V |
热漂移 |
|
|
20 |
100 |
ppm/°C |
最大绝对额定值Absolute maximum ratings |
|||
规格 |
标记Symbol |
参数 |
单位 |
反向电压Reverse voltage |
VR-max |
30 |
V |
工作温度 |
Toper |
70 |
ºC |
储存温度 |
Tstg |
100 |
ºC |
测试条件:室温23ºC,偏置电压15 V,光源波长940nm,位置非线性和热漂移在探测器长度的80%范围内有效。
封装:34针引脚DIP陶瓷基板,21.6x15.0mm2,带保护窗。
SiTek位置敏感探测器阵列的尺寸图示:
图3:阵列式位敏探测器尺寸详细图
注:输出Y1、Y2可互换,阳极Y1、Y2与阴极(偏置引脚)相比必须处于负电位;杂散光区域应连接到与阳极相同的电位。
SiTek位置敏感探测器阵列的光谱响应曲线图:
图4:SiTek位敏探测器阵列的光谱响应曲线图
位敏探测器PSD的应用须知Application information:
位敏探测器PSD的固有分辨率很高,优于百万分之一。因此,基于PSD的测量系统的性能受到其机械、光学和电气组件的限制。
要想获得优异的性能,需要考虑以下几点:
- 调制光源:调制光源可以避免其他光源的影响
- 稳定的温度
- 机械稳定系统
- 高光学分辨率
- 和差信号分割分辨率高
在PSD测量系统中,分辨率、光学灵敏度和测量速度是相互关联的,用户需要为系统做出适当的选择和权衡。