Beamon-TEC制冷型光斑分析仪配备了8.3兆像素的高分辨率传感器（最高分辨率 3800x2200 像素），光束宽度分辨率达1微米，可精确测量直径范围在30微米至6毫米的光束。制冷光束分析仪Beamon-TEC标准光谱响应覆盖350至1300纳米，并在近红外波段（如超过1350纳米）表现出增强的灵敏度。Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪核心特性包括可调节至-20°C及以下的TEC冷却以抑制热噪声、实时温度监控，以及能够分析光束轮廓、宽度、位置和功率的综合软件
所属品牌： 以色列Duma Optronics
应用类型：
产品型号：Beamon-TEC
负责人：李豪
联系电话：18926463275
电子邮箱：sales11@welloptics.cn
DUMA BeamOn-TEC制冷型光斑分析仪, 标准光谱响应覆盖350至1300nm
BeamOn-TEC 是一款主动制冷式激光光束制冷分析仪，它通过整合精密的温度控制单元，显著降低了传感器暗电流与热噪声，从而实现了前所未有的测量稳定性。系统配备了一块高分辨率、高灵敏度的图像传感器，并搭载了功能强大的分析软件，能够对各种连续波（CW）与脉冲激光的光束参数进行精确、实时、全面的定量分析。
图：Beamon-TEC制冷型光斑分析仪
Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪详细技术规格参数表：
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项目 |
规格与描述 |
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适用激光类型 |
连续波（CW）与脉冲激光 |
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光束宽度分辨率 |
≤ 1 微米 |
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最大分辨率（水平x垂直像素） |
3800 x 2200 像素 |
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可测光束尺寸范围 |
∅30 μm – ∅6 mm |
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标准光谱响应范围 |
350 – 1300 nm |
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传感器有效面积 |
对角线12.8 mm， 11.2 mm x 6.3 mm |
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最小像素尺寸 |
2.9 μm x 2.9 μm |
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增益控制范围 |
最高可达600倍 |
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分区并行工作能力 |
最多可划分为400个扇区 |
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热电制冷温度 |
可调节至 -20°C 及更低 |
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快门速度范围 |
32 μs 至 2 秒 |
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曝光控制 |
可通过图形用户界面（GUI）编程控制 |
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数据接口 |
USB 3.0 |
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电源需求 |
12 V DC， 3 A |
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机械接口/安装 |
立柱安装：M6螺纹；光学附件：C接口 |
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外壳尺寸（直径 x 高度） |
∅80 mm x 85 mm |
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典型重量 |
560 克 |
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最低硬件要求 |
CPU: Intel i3 1.6 GHz， 内存： 4 GB RAM |
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操作系统 |
Windows 11 |
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标准配件 |
相机主机、数据线、安装立柱、携带箱、ND1000滤光片、软件光盘/U盘 |
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可选配件 |
IR边缘滤光片（厚度2.5 mm， 透射>1100 nm）、M42转C接口适配器 |
-典型波长性能参考表：
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波长 (nm) |
饱和功率密度 |
灵敏度（优于） |
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633 |
20 μW/mm² |
1 nW/mm² |
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980 |
100 μW/mm² |
1 nW/mm² |
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1310 |
0.2 W/mm² |
20 μW/mm² |
Beamon-TEC制冷型光斑分析仪核心特点：
Beamon-TEC制冷型光斑分析仪配备了8.3兆像素的高分辨率传感器（最高分辨率 3800x2200 像素），光束宽度分辨率达1微米，可精确测量直径范围在30微米至6毫米的光束。制冷光束分析仪Beamon-TEC标准光谱响应覆盖350至1300纳米，并在近红外波段（如超过1350纳米）表现出增强的灵敏度。Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪核心特性包括可调节至-20°C及以下的TEC冷却以抑制热噪声、实时温度监控，以及能够分析光束轮廓、宽度、位置和功率的综合软件。
卓越的光学性能
超高分辨率：采用8.3兆像素传感器（有效面积11.2 mm x 6.3 mm），最高分辨率达3800x2200像素，确保了光束轮廓的清晰细节展现。
极优的波长适应性：制冷光束分析仪Beamon-TEC标准光谱响应范围覆盖350 nm至1300 nm（可见光至近红外），并在近红外波段（尤其超过1300 nm）具备增强的灵敏度（制冷型近红外光斑分析仪）。对于特定高波长需求，可提供定制方案。
精细光束测量能力：光束宽度分辨率可达1微米或更优，能够精确分析从30微米到6毫米直径的各种光束尺寸。
先进的温度控制技术
可调谐热电制冷（TEC）：制冷光束分析仪Beamon-TEC支持调节至-20°C 及更低的传感器工作温度，有效抑制因热量积累产生的暗电流与热噪声，为高精度、长时程测量提供了根本保障。
实时温度监控：Beamon-TEC制冷光束轮廓分析仪软件界面提供实时高分辨率传感器温度显示，使操作者能够随时监控系统热状态，激光光束制冷分析仪确保测量条件的稳定与复现性。
强大的数据分析与易用性
低噪声高信噪比：激光光束制冷分析仪得益于制冷设计，系统在测量连续波和脉冲激光时均能获得极佳的信噪比，输出更“干净”、更可靠的数据。
直观多功能软件：配套软件提供完整的光束分析功能，包括但不限于：二维/三维轮廓图、光束宽度（如D4σ、刀边法）、形状参数（如椭圆度）、质心位置、功率/能量密度，并与传感器温度数据实时联动。
灵活的传感器分区：传感器可被划分为最多400个独立工作扇区，并行处理多光束或进行空间多区域同步测量。
Beamon-TEC制冷型光斑分析仪应用领域：
BeamOn-TEC 凭借其高灵敏度、高稳定性及宽光谱适应性，可广泛应用于：
-激光研发与制造：激光器性能测试、模式分析、光束质量评估，制冷型近红外光斑分析仪。
-精密加工：激光焊接、切割、打标等工艺中的光束监控与校准。
-光通信：光纤耦合效率测试、波分复用系统光束分析。
-科学研究：量子光学、冷原子物理、非线性光学等实验中的精密光束测量。
-生物医学：光学相干断层扫描（OCT）、共聚焦显微镜等系统的光束诊断。
订购信息
-产品型号：BEAMON-TEC
-标准配置：包含相机主机、USB 3.0数据线、安装立柱、专用携带箱、ND1000中性密度滤光片、以及预装分析软件的CD/U盘。
可选附件：
-IR边缘滤光片：用于截止特定波长以下的光，透射范围大于1100 nm。
-M42转C接口适配器：用于连接标准C接口螺纹的光学附件。
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