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1.9-4um中红外带宽光纤激光器,中红外带宽光纤激光器1.9um -4um Brevity λ中红外飞秒激光器(1.7um, 2.1um) Brevity中红外激光器(1.93um,1.96um)
 
激光分析诊断设备

光斑分析仪 位敏探测器 自准直仪

光束质量分析仪(M2) 激光波长计

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晶体

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AAA级太阳能模拟器光学斩波器

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单色仪>
单色仪
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光谱仪器>
全角度透反射测量系统 透过率测试仪 量子效率测量系统 光谱电化学工作站
光纤测量仪器>
光时域反射仪OTDR FTE系列光时域反射仪
偏振光学仪器>
径向偏振转换器 可变螺旋板 可变相位延迟器 偏振旋转器
多边形扫描镜>
PLS多边形扫描头 PLS激光清洗多边形扫描镜 PLS多边形扫描控制器 多边扫描器
激光教学仪器>
Phywe半导体泵浦的固体激光器教学设备 固体激光器教学设备 光纤激光器教学装置 掺铒光纤放大器教学设备 半导体激光器教学实验仪器
光电转换器>
C-995光学斩波器 PDA-750 光电二极管放大器 TIA光电转换产品
红外热像仪>
红外观察仪IRViewer IR Viewer 红外观察仪 红外探测器 红外热像仪,红外观察仪
太阳能模拟器>
日本Asahi氙灯光源 小型太阳光模拟器 USHIO氙灯 SS系列全反射太阳模拟器(AAA级) Sciencetech可调波长光源 Sciencetech太阳能模拟器 超高效率太阳能模拟器 脉冲太阳能模拟器 光伏检测系统 可调节氙灯光源 IPCE量子效率测量系统 PTS-2-IQE
光调制器>
马赫增德光纤干涉仪与迈克尔逊干涉仪 Optiphase中范围光纤拉伸器PZ3 Optiphase高效光纤拉伸器PZ2 Optiphase光纤拉伸器
其它仪器设备>
Alpha3光片显微镜 光纤激光转速仪 CMOS相机 宽带脉冲放大器 线阵CCD扫描相机 精密电子天平 LTX光纤链路 替代ORA2S01, GP2Y0A51SK0F的PSD传感器
光谱类产品

海洋光学光谱仪StellarNet光谱仪

高光谱成像仪>
LIMA激光波长可调的高光谱显微镜 HypIRia高光谱远心镜头 LLTF CONTRAST高光谱可调谐滤波器 HyperCube高光谱相机滤光器 CIMA高光谱共聚焦显微镜 IR VIVO高光谱动物成像系统 VladimIR近红外二区微孔板读数仪 IRina近红外高光谱探针 GRAND-EOS高光谱成像仪 RIMA高光谱拉曼成像系统 IMA高光谱显微成像系统
其他光谱仪>
太阳光谱分析系统 便携式荧光光谱仪分析仪
高光谱相机>
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通用型光谱仪>
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近红外光纤光谱仪>
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高分辨率光谱仪>
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Alphalas宽带可调谐波片 Optogama消色差波片 B.Halle消色差波片
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透镜>
Optotune可调焦透镜 WOP锥透镜 Asphericon非球面柱面镜 锥镜 平凸透镜,透镜 Anteryon非球面镜 平凹透镜 双凸透镜,双凸球面镜 双凹球面镜,双凹透镜 平凹柱面透镜,透镜 平凸柱面透镜,柱面镜 锥透镜,轴锥镜 Asphericon非球面镜
棱镜>
菲涅尔棱镜 等边色散棱镜,色散棱镜 直角棱镜,棱镜 五角棱镜 角锥棱镜回射器
扩束镜>
非球面扩束镜 扩束镜波前校正器 可变扩束器 电动扩束器 固定倍率扩束器
反射镜>
可变反射镜 激光线反射镜 宽带反射镜 中空回射器 多波长介质膜高反射镜 激光腔输出耦合器,输出镜 主流中空回射器 谐波分离器,波长分光镜 高斯反射镜 金属膜反射镜
窗口片>
曲面窗口片 高精度窗口片
变形镜>
MEMS变形镜 ISP可变形反射镜 Dynamic-Optics变形镜,自适应镜头 Phaseform透射式变形镜 Alpao高速闭环自适应光学系统 ALPAO可变形模态反射镜 ALPAO可变形反射镜
其他光学镜片>
紫外相机镜头
 
光学配件

激光防护眼镜激光护目镜 

平移台及显微镜载物台

显微镜载物台自动对焦

Zaber电控平移台MinusK隔振台

电控平移台>
1μm精度Z轴升降台 XY二维移动平台/显微镜载物台 Lexitek湍流相位板电动旋转台 Zaber线性制动器 Zaber电控平移台 高精度旋转台,升降台 真空平移台 多轴电动平移台 高精度电控平移台(1μm)
探针台>
Micromanipulator探针 Micromanipulator探针台 探针台探针 手动探针系统 半自动探针系统 2210-LS探针台 VERSA探针台
Marzhauser型号>
SCAN plus系列显微镜载物台 SCAN IM系列倒置显微镜载物台 SCAN系列正置显微镜载物台
PRIOR显微镜平台>
CS200显微镜平台操纵杆 H101F显微镜平台 PRIOR显微镜载物台 H117显微镜电动平台 ES111显微镜平台 HLD117显微镜载物台 电生理显微镜载物台,神经科学显微镜电动平台
MW显微镜载物台>
SCAN 75x50mm显微镜载物台 SCAN plus 75x50mm显微镜平台 三轴显微操作器MM33 手动测量载物台 德国MW集成手动显微镜载物台 德国MW电动测量平台 Marzhauser倒置显微镜载物台 正置显微镜电动载物台 手动显微镜载物台 MW显微镜载物台
显微镜载物台配件>
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隔震台>
K&S主动隔震台 K&S主动隔震台-Soto 地板式隔振平台 原子力显微镜隔振台 MinusK隔振台
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太赫兹探测器

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狭缝扫描式光束质量分析仪BeamMap2

狭缝扫描式光束质量分析仪BeamMap2

本文主要介绍DataRay狭缝扫描式光束品质分析仪Beam'R2和BeamMap2。其与传统的光斑截面分析仪的最大区别是,无需繁复的移动仪器便可以实时精准的得到激光的激光轮廓分布,激光质心,实时M2,指向,发散角和焦点位置和激光对准的测量。BeamMap2拥有Beam'R2所没有的功能,如实时M2,指向,发散角和焦点位置的测量的功能是只有BeamMap2具备的。

所属品牌: 美国DataRay

应用类型: 激光测量

产品型号:Beam'R2,BeamMap2

负责人:孙工 激光分析诊断设备
联系电话:13692216712 电子邮箱:zmsun@welloptics.cn

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聚焦,M2,发散和对准的实时分析

狭缝扫描式光斑质量分析仪Beam'R2BeamMap2


DataRayBeam'R2非常适合于许多激光光束分析的应用。 通过标准的2.5μm宽度大小的狭缝和更大的刀口切面,Beam'R2能够测量直径小至2μm的激光光束。 通过选择硅和InGaAs或扩展的InGaAsBeam'R2可以分析190 nm2500 nm的光束。 Beam'R2扫描狭缝仪器提供比基于相机的系统更高的分辨率。

DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。 它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量,扩展了Beam'R2的测量功能。 这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对,以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2独特的专利设计最适用于焦点位置,M2,光束发散和指向的实时测量。

光束强度分析是光子学许多方面的重要工具。聚焦激光束中的精确强度分布在许多应用中是至关重要的:流式细胞术,激光打印,医疗激光和切割激光等等许多方面。 强度轮廓分布测量可以表征和改进产品性能和生产过程,从而大大节省成本和时间,如果使用过传统的激光光斑分析仪测量激光发散角以及M2值,那么您就知道该过程的耗时。 测量一次,沿z轴移动探测器,在第二个平面测量,估计焦点位置,重新调整z,再次测量......通常是一个漫长,乏味和复杂的过程。使用BeamMap2可以实时得到测量激光光束的各项参数且无需繁复的人工操作便可以得到精确的激光M2,激光发散角,激光聚焦光斑位置。

本文主要描述了BeamMap2Beam'R2在参数和功能上的区别。功能上Beam'R2有的功能BeamMap2基本都有。同时,BeamMap2所以拥有的功能如多个z平面扫描,实时M2,指向,发散角和焦点位置测量等特点都是Beam'R2所没有的。

获得专利的BeamMap2是唯一可商购的多平面光束质量分析仪。 DataRay软件中使用的BeamMap2的屏幕截图如下所示。 在这里,您可以在四个不同的z位置看到四个同时光束轮廓。 软件显示该光束在XYZ中正确聚焦,并且该光束的M21.47

DataRay狭缝扫描式光束品质分析仪Beam'R2BeamMap2特点:

-ISO兼容光束直径测量
-
端口供电的USB2.0
-
自动增益功能
-
可选配件,适用于符合ISO 11146标准的M2测量。
-
实时二维狭缝
-
分辨率高达0.1μm
-
探测器选项,190 - 2500 nm
-5 Hz
更新速率(用户可调节2-12 Hz
-
测量高重复脉冲激光
    
脉冲最小PRR = [500 /(光束直径,以μm为单位)] kHz

美国DataRay狭缝扫描式光束质量分析仪BeamMap2所特别具有的特点:

-多个z平面扫描

-XYZ曲线,外加θ-Φ角度测量
-
焦点位置和直径
-
实时M2,指向和发散角
-
使用BeamMap2-Collimate实时测量准直光束的发散度
-
识别焦点,重复精度为±1μm(光束相关)
-
可选的LensPlate2用于探测难以接近的光束束腰和重新成像的波导

Optional LensPlate2 for reaching inaccessible beam waists and reimaging waveguides

DataRay狭缝扫描式光斑质量分析仪Beam'R2BeamMap2主要应用:

-非常小的激光束轮廓

-光学组件和仪器对准

-OEM集成

-镜头焦距测试

-实时诊断聚焦和对准误差

-将多个装配体实时设置为相同的焦点

DataRay狭缝扫描式光斑质量分析仪Beam'R2BeamMap2参数规格对比

参数

参数值

BeamMap2

Beam'R2

Comments

波长可选范围(nm

190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500

Yes

Yes

Si, InGaAs, Si + InGaAs,

被扫描光束直径

2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)

Yes

Yes

Si + InGaAs, extended

X-Y 轮廓及中心分辨率:

0.1 μm 或者 0.05% 的扫描范围

Yes

Yes

 

精度:

± <2% ± ≤0.5μm

Yes

Yes

 

CW or Pulsed

连续/脉冲 最小PRR [500/(激光直径um)]kHz

Yes

Yes

 

光束对准准直

± 1 mrad with BeamMap2 Colli­Mate

Yes

-

 

M2 测量

1 to >20, ± 5%

Yes

-

Beam Dependent

实时更新

5 Hz

Yes

Yes

4 Z-plane hyperbolic fit

最大功率&辐照度

1 W Total & 0.3 mW/μm2

Yes

Yes

Adjustable 2-12 Hz

增益范围:

32dB

Yes

Yes

Metallic film on Sapphire slits

Display graphics: All: X-Y position; Profiles.

BeamMap2 only: M2, Focus; Divergence, Boresight/Pointing

文献资料

Beammap2 规格书

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