日本OXIDE FL-CW系列连续保偏光纤激光器提供355nm、532nm、1064nm三波长输出，结构紧凑，免维护。支持定制波长（1050-1090nm），高消光比（>100:1），TEM00光束（M²<1.2），无需冷却，适用于光镊、半导体检测、生物分析等精密应用。可选单波长（3W@532nm、30mW@355nm）或三波长同步输出（30/400/3000mW）。
所属品牌： 日本 Oxide
应用类型：
产品型号：FL-CW-SHG，FL-CW-THG，FL-CW-3band，FL-CW-FM
负责人：戴湘麟
联系电话：13423881512
电子邮箱：team5@welloptics.cn
355nm,532nm,1064nm,FL-CW系列,OXIDE带频率转换器PM连续光纤激光器
日本OXIDE FL-CW系列连续保偏光纤激光器提供355nm、532nm、1064nm三波长输出，结构紧凑，免维护。支持定制波长（1050-1090nm），高消光比（>100:1），TEM00光束（M²<1.2），无需冷却，适用于光镊、半导体检测、生物分析等精密应用。可选单波长（3W@532nm、30mW@355nm）或三波长同步输出（30/400/3000mW）。
日本OXIDE连续光纤激光器/三波段连续PM光纤激光器/355/532/1064连续保偏光纤激光器/FL-CW系列激光器是基于连续波光纤激光器单通配置的频率转换激光器。在频率转换阶段没有谐振腔，因此在波动环境下也能保持较高稳定性。剩余的基频光被引导到转换器外部，激光头无发热材料。此外，该激光器可从一个激光单元实现双波长或三波长输出。 特征：Fundamental light is delivered by PM fiber, laser head is relatively compact.其中PM fiber就是保偏光纤（Polarization Maintaining Optical Fiber）。
图：FL-CW系列连续保偏光纤激光器
日本OXIDE连续光纤激光器/三波段连续PM光纤激光器/355/532/1064连续保偏光纤激光器/FL-CW系列激光器的基频光由PM（保偏）光纤传输，使得激光头结构相对紧凑。剩余基频光耦合到多模光纤并在转换器头部外排出，转换器无热源，便于在无需冷却的情况下集成到系统中。凭借OXIDE高品质的晶体和高稳定性的光纤激光器，该系列激光器可靠性高，免维护。通过调整光纤激光器中的光纤布拉格光栅（FBG）和转换器中的非线性光学（NLO）器件光栅，可在1050至1090nm的基频光范围内选择任意波长。
规格
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参数 |
FL-CW-SHG |
FL-CW-THG |
FL-CW-3band |
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型号 |
- |
- |
- |
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波长 |
532nm |
355nm |
355・532・1064nm |
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输出功率 |
3W |
30mW |
30・400・3000mW |
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输出类型 |
自由空间 |
自由空间 |
自由空间 |
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消光比 |
>100:1 |
>100:1 |
>100:1 |
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光束质量 |
TEM00,M2<1.2 |
TEM00,M2<1.2 |
TEM00,M2<1.2 |
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偏振 |
线性 |
线性 |
线性 |
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尺寸（转换器） |
200x63x44mm |
200x63x44mm |
160x100x45mm |
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特点、选项等 |
定制波长（520nm至545nm） |
定制波长（351nm）、光束直径 |
三波长同时输出、可共线输出 |
图：FL-CW-SHG示意图
图：FL-CW-THG示意图
图：FL-CW-3band示意图
FBG 型连续光纤激光器/FL-CW系列技术参数（典型值）
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参数 |
FL-CW-FM |
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型号 |
- |
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波长 |
1064nm |
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输出功率 |
5 - 20W |
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线宽 |
<0.15nm |
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消光比 |
100:1 |
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光束质量 |
TEM00, M²<1.2 |
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偏振 |
线性 |
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电源要求 * |
≦12V, ≦10A |
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冷却方式 |
风冷 |
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尺寸 |
200x118x29mm |
注：* 需单独准备电源，也有带电源的型号可供选择，可联系获取详情。
图：FL-CW-FM示意图
连续光纤激光器/三波段连续PM光纤激光器/主要特点
-紧凑的激光头：保偏光纤传输基频光，减小了激光头尺寸。
-无需散热装置：剩余基频光排出，转换器无热源，便于系统集成。
-高可靠性：采用优质晶体和稳定光纤激光器，非线性器件和光学设计优化。
-波长定制：可在特定基频光范围内定制波长。
355/532/1064连续保偏光纤激光器/FL-CW系列主要应用
-光镊技术：利用激光的力学效应操控微小粒子。
-粒子注入：在材料处理或生物实验中实现粒子的精准注入。
-生物分析：用于生物样品的光学检测和分析。
-半导体检测：检测半导体材料和器件的缺陷等问题。
-光学元件检测：评估光学元件的性能和质量。
-光致发光泵浦源：为光致发光实验提供激发光源。
